张春雷
- 作品数：1 被引量：7H指数：1
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- 染污复合绝缘子受潮过程中特征量K_(h10)理论分析被引量：7
- 2017年
- 特征量Kh用于描述复合绝缘子受潮期间的污层状态,研究了其物理意义。针对污层表面局部放电现象,提出了相应的电路模型,并结合试品受潮期间的干区形成过程,进一步探讨了电路模型的正确性。分析认为:Kh的理论值等于污层剩余电阻与总电阻之比,干区电阻越小,污层表面放电越微弱,Kh值越大。Kh值变化与污层表面局部放电相对应,间歇性放电造成Kh值频繁波动,要评价污层受潮状态,需对Kh数据进行特殊处理。通过提取周期T内10个最小的Kh值,得到平均值K_(h10),可用于研究染污复合绝缘子的受潮过程。研究发现:试品闪络电压与污秽度、污秽成分、憎水性、受潮程度等多因素有关,特征量K_(h10)表征了试品受潮期间的综合表面状态,对于污秽度、污秽成分、憎水性能、受潮方式均不同的染污试品,只要闪络试验前的K_(h10)值趋同,闪络电压也接近,由此表明特征量K_(h10)对于复合绝缘子人工污秽试验具有良好的适用性。
- 郑广君戴罕奇张春雷谷哲飞赵新历王海波王黎明
- 关键词：泄漏电流电路模型闪络电压
