张辉
- 作品数：2 被引量：4H指数：1
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- 一种过电应力导致的双极型功率晶体管失效分析
- 本文针对一种双极型功率晶体管的失效问题进行了分析.通过Ⅳ特性测试,双极型晶体管的基极与发射极接近短路,基极与集电极呈电阻特性,导致了应用电路的输出电压发生跳变,从而引发系统失效.针对失效双极型晶体管开展了一系列的试验,从...
- 孔泽斌廉鹏飞张辉刘相全罗宇华
- 由栅氧损伤引起闩锁效应的失效分析被引量：4
- 2015年
- 随着MOS器件特征尺寸的缩小和栅氧化层厚度的减薄,栅氧损伤成为MOS集成电路在实际应用中的主要失效模式之一。闩锁是CMOS集成电路结构所固有的寄生效应,寄生的可控硅结构一旦被特定条件触发,会在电源与地之间形成大电流通路,导致整个器件失效。对一例由栅氧损伤引起器件闩锁效应的失效进行分析。通过微光显微镜(EMMI)技术和激光诱导阻值变化(OBIRCH)技术进行失效定位,在电路板级通信状态下进行闩锁效应复现及验证。最后通过分析损伤所在的电路功能和器件结构,阐述闩锁效应形成的机理。
- 刘楠刘大鹏张辉祝伟明
- 关键词：闩锁效应
