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陈金鸿
作品数:
1
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供职机构:
上海理工大学
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相关领域:
自动化与计算机技术
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合作作者
谢亚莲
上海工业自动化仪表研究所
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1篇
陈金鸿
传媒
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企业技术开发...
年份
1篇
2014
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存储器测试算法及诊断覆盖率研究
2014年
随着微电子技术的快速进步,半导体集成电路高速发展,新的存储器测试技术也不断更新。文章描述了存储器的经典测试算法运算过程,并分析了其原理。在研究经典测试算法的基础上,吸收经典算法的思想,比较各种不同算法的优缺点,改进测试算法,以便在实际检测中能够减少测试所需要的时间,提高故障诊断覆盖率,达到比较满意的测试效果。
陈金鸿
谢亚莲
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存储器
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