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陈金鸿

作品数:1 被引量:0H指数:0
供职机构:上海理工大学更多>>
相关领域:自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇存储器

机构

  • 1篇上海理工大学
  • 1篇上海工业自动...

作者

  • 1篇谢亚莲
  • 1篇陈金鸿

传媒

  • 1篇企业技术开发...

年份

  • 1篇2014
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
存储器测试算法及诊断覆盖率研究
2014年
随着微电子技术的快速进步,半导体集成电路高速发展,新的存储器测试技术也不断更新。文章描述了存储器的经典测试算法运算过程,并分析了其原理。在研究经典测试算法的基础上,吸收经典算法的思想,比较各种不同算法的优缺点,改进测试算法,以便在实际检测中能够减少测试所需要的时间,提高故障诊断覆盖率,达到比较满意的测试效果。
陈金鸿谢亚莲
关键词:存储器
共1页<1>
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