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文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇电子电信

主题

  • 2篇电压
  • 2篇电压发生器
  • 2篇静电放电
  • 2篇发生器
  • 2篇ESD
  • 1篇带隙基准
  • 1篇带隙基准源
  • 1篇氮化
  • 1篇氮化硅
  • 1篇电流模
  • 1篇电源电压
  • 1篇电源电压抑制...
  • 1篇信号
  • 1篇信号发生
  • 1篇信号发生器
  • 1篇抑制比
  • 1篇温度系数
  • 1篇开关
  • 1篇基准电压
  • 1篇基准源

机构

  • 4篇兰州大学

作者

  • 4篇李沛林
  • 3篇杨建红
  • 1篇林中瑀
  • 1篇王敬松
  • 1篇王星辉

传媒

  • 1篇半导体技术
  • 1篇电力电子技术
  • 1篇现代电子技术

年份

  • 2篇2010
  • 1篇2009
  • 1篇2008
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
PECVD淀积Si_3N_4作为光刻掩膜版的保护膜被引量:2
2009年
采用等离子增强化学汽相淀积(PECVD)方法淀积Si3N4薄膜作为光刻掩膜版的保护膜,可以降低掩膜版受损程度,延长使用寿命。分析了Si3N4膜厚的选取要求,给出了PECVD淀积Si3N4膜的工艺条件。实际制作了带有Si3N4保护的光刻掩膜版,并与不带Si3N4保护的掩膜版的使用情况做了对比。结果表明,带有Si3N4保护的光刻掩膜版的使用寿命可明显延长2倍以上。
张晓情李沛林王敬松杨建红
关键词:氮化硅光刻版保护膜
基于CPLD控制的ESD信号发生器
人体在日常生活中通过接触、感应、吸附而带电。当带电的人手碰触电子元器件或者集成电路(IC)时,人体的静电得以释放,其产生的高压脉冲信号可造成电子系统的永久性失效。特别是在集成电路(IC)领域,由于器件的特征尺寸的持续减小...
李沛林
关键词:静电放电电压发生器高压开关信号发生器
文献传递
一种高精度BiCMOS电流模带隙基准源被引量:2
2010年
采用Xfab0.35μmBiCMOS工艺设计了一种高电源抑制比(PSRR)、低温漂、输出0.5V的带隙基准源电路。该设计中,电路采用新型电流模带隙基准,解决了传统电流模带隙基准的第三简并态的问题,且实现了较低的基准电压;增加了修调电路,实现了基准电压的微调。利用Cadence软件对其进行仿真验证,其结果显示,当温度在-40~+120℃范围内变化时,输出基准电压的温度系数为15ppm/℃;电源电压在2~4V范围内变化时,基准电压摆动小于0.06mV;低频下具有-102.6dB的PSRR,40kHz前电源抑制比仍小于-100dB。
李沛林杨建红
关键词:电源电压抑制比温度系数
一种新型ESD电压发生器的设计与调试被引量:2
2008年
针对静电放电(Electro-static Discharge,简称ESD)对芯片造成损伤的现象,研究了静电放电发生的过程及产生的原因。首先阐述了几种常见的模拟静电放电过程的模型,然后利用彩色电视机的一体式行回扫变压器作为直流高压源、串联SCR作为高压开关,设计并制作出符合IEEE Std C62,38-1994标准的ESD人体模型实验发生仪器,并对ESD人体放电模型中的body/finger模型进行了实验模拟。最后给出放电电压为4kV时测量的ESD电流脉冲波形,并与理想放电波形进行对比,其结果验证了该方案的可行性和易操作性。
林中瑀李沛林王星辉杨建红
关键词:发生器
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