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曾泽嵘

作品数:2 被引量:2H指数:1
供职机构:电子科技大学更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇电路结构
  • 1篇电路结构设计
  • 1篇有效值
  • 1篇真有效值
  • 1篇软错误
  • 1篇时钟
  • 1篇自动测试设备
  • 1篇基于FPGA
  • 1篇SEU
  • 1篇FPGA
  • 1篇IC
  • 1篇参数测量
  • 1篇测试设备
  • 1篇触发器

机构

  • 2篇电子科技大学

作者

  • 2篇曾泽嵘
  • 1篇于东英
  • 1篇陈梦远
  • 1篇聂永峰
  • 1篇甘智勇

传媒

  • 1篇现代电子技术

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2011
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
基于FPGA的IC时间参数测量单元的设计与验证
我国集成电路(Integrated Circuit, IC)产业在“十一五”期间产业规模翻了一番,截止2010年市场规模已达7350亿元,占全球比重的43%。IC测试是集成电路产业的重要环节,随着IC集成度越来越高,对I...
曾泽嵘
关键词:自动测试设备真有效值
文献传递
一种改进的对抗软错误电路结构设计被引量:2
2011年
给出了一种改进的基于时钟沿的自我检测和纠正的电路结构,以纠正由单粒子翻转(SEU)引起的数据错误。简单概述了已有的检测和纠正SEU的电路结构,并在该电路的基础上提出了改进的电路结构,以实现对触发器以及SRAM等存储器的实时监控,并可以及时纠正其由于SEU引起的数据错误。采用内建命令进行错误注入模拟单粒子翻转对电路的影响。改进的电路与原来的电路相比,以微小的面积和较少的资源换取更高的纠错率。
聂永峰于东英曾泽嵘甘智勇陈梦远
关键词:SEUFPGA触发器
共1页<1>
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